Electronic Systems Group (GSE)

Patent rights

  • P200802208- Francesc Perez-Murano, Julien Arcamone, Marc Sansa, Juergen Brugger, Marc Van d n Boogart, Nuria Barniol Beumala, Arantxa Uranga del Monte, Jaume Verd Martorell. "Sistema de alineación de patrones en un sustrato mediante litografía por esténcil", Spain. EPFL, 2008. Patent.